2023/11/29

问题描述

使用AT24C02模块，写入数据后立刻读取，读取到的数据出现异常，异常值为0xFF。
例如我们在主函数里，首先调用AT_Write函数往模块的0地址写入一个数据，接着多次调用AT_Read函数从0地址处读取写入的数据，读取到的数据部分会发生错误，具体表现为前几次读取到的数据为0xFF，后几次读取到的数据恢复正常。

解决方法

在 Rev. 0976F–SEEPR–10/02 版数据手册的第九页，我们可以看到如下描述：
大体为：当我们往AT模块成功写入8位数据时，AT模块会回复我们一个0（即IIC通信的应答位），之后AT会进入一个短暂的内部定时写周期 t_wr，在该阶段AT需要把我们发送的8位数据存储到对应的地址，所以在该阶段内所有AT模块的写入操作都会被禁止，模块不再响应外部的请求。
也就是说，当我们在调用了AT_Write函数往模块里写入一个数据时，数据需要一定的时间才能写到模块的flash中，在这个时间段内，模块需要专心处理往flash中写数据的操作，不再响应外部的请求，此时我们调用AT_Read函数返回的当然是一个错误的数据。只有在等待一定的时间，写flash操作完成后，模块才会再次响应我们的请求，此时，我们再调用AT_Read函数返回的数据就变成了正常的数值。这也就解释了为什么当我们连续多次调用AT_Read函数时前几次返回的是错误的数据，后几次返回的是正确的数据。
我们使用逻辑分析仪进行验证：首先，我们往AT模块的0x02地址写入数值0x06，之后立刻从0x02地址读取数据，此时读取到的数据就变成了0xFF，而不是我们希望的0x06。
其实仔细观察可以发现，在返回0xFF数据前，AT回应给我们的是一个NACK。但部分同学使用的函数中并未对IIC返回NACK有特定的处理，而是在返回NACK后仍然从SDA总线上强行读取数据，我们知道，当IIC总线空闲时，总线电平会由上拉电阻上拉至高电平，此时从SDA读取到的数据也就变成了0xFF。
至此我们就可以针对以上的问题找到相应的解决方法了：1. 首先，我们往AT模块写入数据后，不能立刻读取数据，需要等待几个毫秒后再次读取，躲开模块的内部定时写周期 t_wr。 2. 要规范自己的函数，在检测到IIC回复NACK后，需要进行特定的处理，例如数据重发、检查芯片状态等，而不是强行从IIC总线读取数据。

总结

1. 存储模块会有内部定时写周期 t_wr，需要注意。
2. 规范自己的函数，将情况考虑周全，在出现不同的情况时会有不同的返回值。（例如让AT_Read函数返回一个16位数据，低八位存储从AT模块中读取的数据，最高位存储AT模块读取情况，在检测到NACK后将最高位置一，此时就可以通过检测AT_Read函数返回的16位数据最高位状态来判断AT模块的读取情况）