概要

IEC 61709是国际电工委员会（IEC）制定的一个标准，即“电子元器件 可靠性 失效率的基准条件和失效率转换的应力模型”。主要涉及电学元器件的可靠性，包括失效率的基准条件和失效率转换的应力模型。本文介绍IEC 61709第十七章： Switches and push-buttons的失效率预测模型。

1 元器件分类和基准温度

IEC 61709根据元器件的类型和40°C的元器件环境温度，推荐了基准结温θref：

Switches and push-buttons的基准结温

2 失效率的计算

2.1 失效率预测模型

Switches and push-buttons的失效率预测模型如下：

式中：

λ：失效率，单位为十亿分之一每小时（10^-8/h）；

λref：基准条件下的失效率，单位为十亿分之一每小时（10^-8/h）；

πES：电应力系数；

2.2 电应力系数

2.2.1 电应力区域划分

按运行条件的电流和电压划分4个电压力区域：

2.2.2 电应力系数选择

根据继电器负载类型和电应力区域，选择电应力系数：

• Dip fix, coding switches and foil push buttons

πES = 1

• Other switches and push-buttons

             a) Switches and push-buttons for low electrical stress

            b) Switches and push-buttons for higher electrical stress