文章目录
- 1.前言
- 2.环境准备
- 3.DataScreen 功能
- 3.1 例程准备
- 3.2 测试仪表板功能
- 4.Oscilloscope 功能
- 4.1 例程准备
- 4.2 测试示波器功能
- 5.对比 FreeMaster
- 6.推荐阅读
1.前言
之前参加 Infenion 的 2023 年双 11 活动，领取了一块 TLE9879 的开发版TLE9879 EvalKit，最近刚好有时间，基于这块板子体验下 Infenion 的图形可视化工具 Micro Inspector pro。
2.环境准备
硬件：
- 12V 电源
- 杜邦线
- TLE9879 EvalKit
- Micro USB 线
软件：
- Keil 5.32
- TLE987x_DFP 1.6
- Micro Inspector Pro（Version：2.1.6.202103031604）
特别说明：
- Micro Inspector Pro 需要通过 Infineon Developer Center Launcher 进行安装，下载地址为：https://www.infineon.com/cms/en/design-support/tools/utilities/infineon-developer-center-idc-launcher/?redirId=160101
- 如果想要使用 Micro Inspector Pro 的所用功能，需要激活码，可以向Infenion免费申请。
3.DataScreen 功能
3.1 例程准备
测试 Micro Inspector Pro 功能选用的是 TLE987x_DFP 1.6 里面的例程《ADC1_POTI_EIM_EXAMPLE_TLE987X》，不过在使用之前，需要做一些简单的调整。
- 从例程《ADC1_POTI_EIM_EXAMPLE_TLE987X》打开 keil，并将原本的局部变量mV改为全局变量。
- 新增一个新的全部变量 test，并且在 ADC 的 EIM 中断里循环增加。
- 修改后的 mian.c 如下图，最后下载编译到开发板中。
- 我手上开发板靠近的滑动变阻器的 JP6 的 2 脚未连接到 VDDP，和原理图不符合。为了正常测试，需要使用杜邦线将 JP6 的 1 脚和 VDDP 引脚连接在一起。
3.2 测试仪表板功能
- 打开 Micro Inspector Pro，点击设置按钮，按下图进行配置。
- 点击 ELF 文件夹，加载之前编译生成的 AXF 文件。
- 从左侧拖拽两个图形到右侧的画板。
- 分别将两个全局变量拖到对应的图形上。
- 分别配置两个图形的最小值和最大值。
- 点击 run 按钮进行使用。
- 如果不调节滑动变阻器，变量变化情况如下图。
- 如果调节滑动变阻器（先变大，再变小），变量变化情况如下图。
4.Oscilloscope 功能
4.1 例程准备
如果需要使用 Oscilloscope 功能，需要在对应的工程添加一些驱动代码，使用说明如下。
- 点击 Micro Inspector Pro 右上角的 Target Code 按钮，会跳转到对应的压缩包。
- 将压缩包解压然后提取里面的三个文件放到一个新建的文件夹 Micro_Inspector_pro 中，并复制到之前使用的工程所在的文件夹中。
- 然后在 Keil 工程树添加 probe_scope.c 文件以及包含两个 h 文件的路径
- 接着在 main.c 文件中添加对应的初始化函数和采样函数，如下图所示。
- 最后按下图配置好 probe_scope_cfg.h 文件里的宏定义，进行编译下载。
4.2 测试示波器功能
- 按下图所示方式创建 Oscilloscope 界面，并加载上一章节编译好的 AXF 文件。
- 在 Scope Settings 中对前两个通道进行配置，在下列菜单中选择对应的变量名称
- 点击 run 按钮，示波器界面观察到的变量变化情况如下所示。
5.对比 FreeMaster
笔者之前也使用过 FreeMaster，两者各有千秋。简单对比如下：
6.推荐阅读
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