一、 概述
本文主要介绍如何使用芯驰提供的 AUTOSAR MCAL 软件包，开发 SemiDrive E3 的 I2C 模块，对 RTC 芯片进行读写操作。
硬件使用 E3640 GATEWAY 开发板，软件包为 mcal3.1。
图1 硬件环境
二、模块简介
- E3 系列最多支持 8 个 I2C， mcal 驱动依据芯片特性实现部分功能；目前仅支持 master 模式，支持 7bit 和 10bit 从机地址。
2. 硬件功能：I2C 使用 TX/RX 共享 FIFO，FIFO 的深度为 64，宽度为 8;
- 软硬件关联：I2C 的 pin 相关属性请严格参考 EB 示例，SCL/SDA 线硬件请按照标准的 I2C 设计（不要附加其他干扰信号）;外部上拉电阻不合理会导致测量的 I2C 速率无法达到文档标称值。（示例芯片自带的上拉电阻阻值为 2.2K）
三、 示例说明
- 使用配置好的 I2C 模块和 RTC 芯片完成通讯，逻辑分析仪测量验证读写芯片寄存器的过程。
- 查找 Datasheet 相关章节，找到对应引脚的复用：
GPIO_M4; I2C6; SCL
GPIO_M5; I2C6; SDA
GPIO_X9; I2C3; SCL
GPIO_X10; I2C3; SDA
- EB配置：
匹配完成 Mcu\Port\I2C 模块的配置。
图2 EB Mcu配置
图3 EB Port复用
图4 EB I2C
- 修改示例程序：
根据 I2C 的通讯协议完成读写寄存器操作，从机地址和寄存器详情在芯片手册相关章节中可见。
写操作：第一个元素为写入寄存器的地址；
读操作：通过 I2C 读寄存器，需要先写再读。
图5 测试程序1
图6 测试程序2
- 测试结果
逻辑分析仪采样为Mcu写入和读取的数据；输出的 log 为Mcu读取到的指定寄存器的数据。
图7 输出 log
图8 逻辑分析仪采样
四、 参考文档
《SemiDrive_E3_MCAL User Guide》
《 E3400 & E3600 Series MCU Datasheet》
《Application Manual RV-8803-C7》
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