Electronic Imaging 发表了三星论文“采用 Nonacell 和 Super PD 的 CMOS 图像传感器的新型 PDAF 校正方法，以提高合并模式下的图像质量”，作者为 Yeongheup Jang、Hyungwook Kim、Kundong Kim、Sungsu Kim、Sungyong Lee 和 Joonseo Yim。

本文提出了一种新的 PDAF 校正方法，可提高全球首款采用 Samsung Nonacell 和 Super PD 技术的 0.8um 108 兆像素 CMOS 图像传感器的合并模式图像质量。

传统的PDAF校正方法基于坏像素校正(BPC)，将AF像素替换为相邻的正常像素。最近，为了抑制AF伪影，传感器提供了一种先进的算法，可以检测PDAF像素区域附近的图像图案的方向性，并确定参考哪个区域进行校正。例如，当算法检测到图案中没有方向性时，PDAF 像素将通过引用 7x7 或 9x9 像素内核内的所有相同颜色像素来替换。如果检测到斜线图案，PDAF 校正将参考仅位于斜线方向的像素，如表 2 所示。尽管采用了先进的算法，但由于较高的 AF 密度、方向误识别或特殊情况，仍然会出现 AF 伪影。的方向。

为了克服传统方法的局限性，引入了新的校正方法，称为稀释模式。在 Dilution 模式下，包含 AF 像素的 Nonacell 将其自己的种子值输出到 binning 输出，并通过嵌入数据传递 AF 信息，这是 PDAF Tail 模式。”