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E4991A 射频阻抗/材料分析仪
—— 1 MHz到 3 GHz ——
简述
E4991A 射频阻抗/材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。
功能特点
一
主要特性
3 种频率选件：1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz，可升级
±0.65% 基本精度和 120 m 至 52 k 阻抗范围（10% 测量精度范围）
测量参数 Z Y amp;theta;、R、X、G、B、L、C、D、Q amp;Gamma; amp;Gamma;x amp;Gamma;y amp;theta;Γ、Vac、Iac、Vdc1、Idc1（1. 需要选件 001）
内置直流偏置（选件 001）：0 V 至 ±40 V，0 A 至 ±100 mA
10.4 英寸彩色 LCD 触摸屏可显示 4 个通道和 4 条迹线
数据分析功能：等效电路分析、极限线测试
介电/磁性材料测量（选件 002）
温度特征测量（选件 007)和可靠的晶圆上测量（选件 010）功能
二
扫频参数
频率：1 MHz 至 3 GHz
振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA
三
更多特性
不需要转台/扫描架等大型的高精密机械运动设备，也不需要移动或者拆装天线装备，系统可围绕待测天线进行移动，获取方位角、俯仰角下幅度数据的测试，在现场得到待测天线的方向图指标。
四
多功能测量选件
介电/磁性材料测量（选件 E4991A-002）
可靠的晶圆测量（选件 E4991A-010）
温度特性测量（选件 E4991A-007）
五
温度特性评估
温度特性测试套件 E4991A-007 是一款为元器件和材料进 行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在 - 55°C 至 + 150°C 广泛的温度范围内提供高精度的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。
典型应用
无源元器件：电容器、电感器、铁氧体磁珠、电阻器或晶体/陶瓷谐振器等芯片元器件的阻抗测量。
半导体元器件：变容二极管的 C-V 特征分析和等效串联电阻测量。
介电材料：塑料、陶瓷和印刷电路板的介电常数和损耗因数测试。
磁性材料：铁氧体、非晶体和其他磁性材料的导磁率和损耗因数测试。
【END】
