模数转换器（ADC）是数字电子系统中重要组成部分，用于捕获外部世界的模拟信号，如声音、图像、温度、压力等，并将它们转化为数字信号0\1, 以供计算机进行处理分析。ADC芯片在出厂交付之前，需要对产品的性能做各种测试，尤其对于要求可靠性和安全性较高的行业，诸如航空航天、医用医疗、汽车电子等应用领域，都需要对ADC芯片做严苛的性能测试验证。

ADC测试参数主要包括静态参数和动态参数。静态参数主要表示ADC实际测量的输出曲线和理想输出曲线的关系，而动态参数着重分析ADC的频谱特性。

静态测试常见参数

• DNL：对于给定的输入范围，ADC输出之间的步进量误差，用于衡量实际输出码和理想输出码的差距。
• INL：积分非线性，整个输入范围内的非线性误差，即真实与理想情况下码宽误差的累计。
• Offset：积分非线性，整个输入范围内的非线性误差，即真实与理想情况下码宽误差的累计。
• Gain：增益误差。输出全是1时，对应的实际电压和理想电压之差。
• TUE：在考虑所有误差来源的情况下，评估转换器的整体性能。
• Missing code：输出范围中未被转换器所表示的编码值。

图1. ADC静态参数测试

动态测试常见参数

• THD：总谐波失真，转换过程中非线性引起的谐波失真。
• SNR：信噪比，输出信号与内部噪声之比。
• SFDR：无杂散动态范围，就是基频信号不存在额外杂散分量的最大范围。
• ENOB：实际有效位数。在噪声和失真存在的情况下，ADC实际可达到的位数。

图2. ADC动态参数测试

德思特ADC测试解决方案

图3. 德思特ADC测试台架ATX7006A

目前针对ADC芯片的性能测试，表现出朝着高采样率、高精度等性能参数测试的发展趋势。

德思特提供完整的ADC测试解决方案，能够测试8-24位的ADC芯片，功能测试涵盖几乎所有典型的性能参数测试（包括静态参数测试和动态参数测试）。我们采用紧凑型模块化集成的ATE测试硬件台架，配套专用的测试分析软件ATView和WaveAnalyzer，给您提供ADC测试交钥匙解决方案。

德思特ADC测试平台特点

✓ 完全集成的ADC测试解决方案

✓ 采样频率高达200/400 MHz

✓ 无与伦比的信号发生质量和精度

✓ 支持所有线性/动态测试

✓ 灵活和通用的数字IO

✓ 扩展分析软件ATView\WaveAnalyzer

✓ 静态、直方图测试

✓ 易于用户自定义的测试脚本

图4. 德思特ADC测试系统架构

图5. 德思特ADC测试配套软件ATView 7006