NetXpert XG2帮您解决“布线安装与维护”难题

在传输大量数据时，光纤变得越来越重要，而铜缆在未来也将继续发挥重要作用，因此我们不仅要比较两种类型布线的优缺点，还要探究光纤传输中的错误来源。

测试光缆传输损耗的准确性对于故障排除至关重要，特别是在光纤情况下，该过程不仅非常耗时、成本高昂，且技术人员必须要采集、记录和分析大量测量数据来跟踪间歇性故障。Softing NetXpert XG2的“LiveLight”功能可实现对数据传输变化的实时检查。

一光缆和铜缆的比较

与铜缆相比，光缆使用量增加的优势显而易见——通过合适的收发器，光缆可以覆盖40~80公里的距离，传输高达400Gbit/s的数据，而8类铜缆仅允许在大约30米的距离传输40Gbit/s。不仅如此，光纤更轻和更紧凑，这意味着多根光纤可以装入一根光缆中，从而保证了更高的传输速度。此外，光纤网络还具有更高的安全性。IEEE也正朝着超越1Tbit/s大关方向迈进，这也是光缆在数据中心中变得不可或缺的原因。

然而，光纤光缆比铜电缆“敏感”得多。虽然普通的铜跳线可以承受扭结或其他机械应力等外部影响，并且即使损坏也能在一定程度上发挥作用，但光纤的情况有所不同——小的弯曲也会导致玻璃纤维迅速断裂。

清洁度的相关性是使用光纤时比使用铜缆时更重要的另一点。为了保持较高的数据传输速率，必须保护光缆免受污染，否则光缆中的衰减会增加很多。

总之，在通过光纤传输数据时，对材料和灰尘的敏感度是很常见的错误来源。尽管如此，在建筑物和校园骨干网以及数据中心中使用光网络的优势仍是非常巨大的，同时也是运营商满足不断增长的数据传输需求的重要途径。由此可见，可靠的测试和相关的故障排除在未来尤为重要。

二光纤电缆的测量差异

光纤环境中有两个相关的测量：OTDR测量（光学时域反射仪）和衰减测量。OTDR测量主要用于确定由错误插头或电缆断裂引起的错误源。在测量过程中，反射光脉冲的传播时间用于确定故障的位置，而故障类型可以从脉冲的衰减曲线中检测出来。

在测量衰减时，测试过程将收集有关整个光纤链路具有多少衰减以及该值是否在指定范围内的信息。这是一种校准的测量，可以使用诸如Softing IT Networks的WireXpert之类的测量设备来执行。衰减测试的结果是设备以类似于万用表的方式显示的数值。

如同使用功率计和光源来测量路线上的衰减一样，这些方法也有几个关键点，例如尽管在电缆的位置发生变化时数值会发生变化，但无法记录变化的过程数据。

三实时传输损耗测试“LiveLight”

现在可通过使用NetXpert XG2来明确定位此类错误。验证仪NetXpert XG2-PLUS还拥有附加功能，例如使用“LiveLight”功能来测试和记录光缆中的传输损耗。NetXpert XG2不仅可以使用时间轴来显示较长时间段内的值变化，还可以得出有关传输损耗原因的结论，以帮助技术人员进行故障排除。此外，这样的测试程序使用时间可长达24小时，且不会中断，从而可以显示长期趋势。

虽然经典的衰减测量仅支持记录瞬时值，而无法记录变化，但这种对传输损耗的测试提供了几个有用的功能——包括记录过程数值，在显示屏上显示历史记录，便于故障排除以及将结果导出为CSV文件，以进行进一步处理。这为“LiveLight”方法带来了两种基本的应用可能性：一方面，可以在几分钟内完成故障排除；另一方面，技术人员可以定期观察较长时间的路由，这意味着可以在短时间内修复间歇性故障。此外，通过这种方式，还容易跟踪在组装了接线盒之后传输损耗是否改变。

四客户案例

| 案例1：

客户是一家光纤布线公司，在区域和全国范围内提供光纤布线领域的服务。通过使用优质材料并与知名制造商合作，客户提供了行业高质量全系列光纤布线系统。

客户在市政厅检查了一组光缆，该光缆连接两座建筑物，用于供暖控制。这里控制中经常出现连接故障，供暖公司将错误归咎于光纤连接。客户通过OTDR检查线路，并没有发现损耗过大问题。为了安全起见，客户使用了Softing NetXpert XG2来进行数据传输测试——使用1Gbit/s传输速度，所有数据包都已正确到达，因此可以排除该光纤布线故障，且故障可能出在控制器的硬件或编程中。

| 案例2：

客户为终客户检查了几根光纤光缆，因为终客户总是抱怨传输速度很差，即使是新安装的OM4和OM5光缆也经常中断。网络是由另一家公司安装的，客户通过对其进行检查找出了错误的原因。

除了经典的OTDR测量外，客户还使用了Softing NetXpert XG2来进行10Gbit/s性能测试。错误的主要来源是接口污染和丢失的防尘帽。接口的反射很差，但清洁后数值明显好转。

最后，使用NetXpert XG2不仅通过了10Gbit/s的速度性能测量，而且也通过了XG2的传输测试，并将类似于交换机发送数据包到设备，由XG2来测量误码率、衰减等因素。