ADC测试是一种电子测试方法，用于评估模拟-数字转换器的性能。ADC(模数转换器)是一种将模拟信号转换为数字信号的电子器件。在ADC测试中，会施加一个已知的模拟信号到ADC的输入端，然后测量其数字输出，通过比较输入信号和输出信号之间的差异，可以判断ADC的性能和精度是否符合要求。

ADC测试可以进行ATE(自动测试设备)测试。ATE测试是一种自动化测试技术，用于对半导体芯片进行快速、准确的检测和分析。在ADC测试中，可以使用ATE测试设备提供时钟信号和输入模拟信号，并自动记录ADC的动态参数如SNR、SINAD、SFDR等测试结果。通过对比不同条件下测得的ADC测试结果，可以验证信号抖动对ADC测试结果的影响。

ATECLOUD进行ADC测试的优势：

支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGBT及分立器件全方位测试;

ns级高精度同步测试;

人性化操作界面，可快速理解、快速上手;

无代码快速搭建测试工步，灵活调整可快速扩展;

支持多工位高速并行测试;

高效支持表征、功能评估和批量生产评估;

已兼容2000+仪器型号，包含是德、泰克、R&S普源、鼎阳、艾德克斯等厂家，支持设备持续扩展;

具备数据洞察及大数据分析功能，为科研生产提供数据支撑;

适用于研发/中试/生产芯片全生命周期的应用。

ATECLOUD-IC测试仪器及配件

系统通过GPIB、RS232、LAN、USB等多种通讯方式集成多种类测试仪器，系统兼容多种品牌仪器型号，全面降低企业产品测试成本，提高产品测试效率，测试数据智能分析，全面提高企业产品生产质量。

用户仪器可自由选型：兼容2000多种不同厂家、型号的仪器，不会被固定硬件限制选择，经济适用。

ATECLOUD-IC功能介绍：

快速方案搭建，一键运行测试;

● 支持多种测试项目配置并可重复使用，批量测试;

● 自动存储测试数据和图片数据;

● 具有设备自检功能，提示甲方设备离线或不存在;

● 测试过程实时观测，自动判别产品是否合格。